2018-09-07
汇聚国内外光电新科技的第二十届中国国际光电博览会（CIOE2018），正在深圳（9月5日-8日）隆重举行，来自全球1700多家光电企业携全新科技和产品亮相于深圳会展中心。开幕首日观众人次达44701人次，同比增长31.7%，盛况空前。
展会上，588888纽约国际线路检测中心仪器先进的精密测量仪器吸引了众多客户的目光，其中最耀眼的是SuperView W1光学3D表面轮廓仪。
SuperView W1光学3D表面轮廓仪广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。
观展的客户们围绕在SuperView W1光学3D表面轮廓仪前，有的仔细翻看宣传资料，有的认真倾听工作人员讲解，观看工作人员现场操作，并不时提出相关问题与工作人员详细交流，还有的客户拿来样品交与工作人员现场检测。
通过与我司工作人员交流以及观看现场操作,客户们对SuperView W1光学3D表面轮廓仪的性能参数以及操作使用十分满意，希望展会后进一步洽谈沟通，商讨合作！
如果您想近距离接触了解SuperView W1光学3D表面轮廓仪，请莅临我司展位-深圳会展中心9号馆9E16，我们在等您！
